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執筆者 :
黒石 英孝（松下ソフトリサーチ）
、木村 初夫（アンリツエンジニアリング）
、和泉 亨（日本電子）
、村田 将（ジャパンシステム）
、今治 明美（松下ソフトリサーチ）
、高野 智（インテック）
、高田 祐布子（オムロン アミューズメント）
紹介文 :
上流で得られるメトリクスを用いて、後工程で生ずる問題を予測しようとした研究。
設計レビュー指摘密度が低いと下流の手戻り率が高いと言うことが言えそう。他に、上流のメトリクスとして、要件レビュー指摘密度、要件実現率、要件の複雑度、設計仕様実現率、設計の複雑度を調べてみたが、有為な相関は得られなかった。
現存する上流のメトリクスから下流の振舞いを推定するには、メトリクスの安定度を良くしないと難しい。
上流で得られるメトリクスを用いて、後工程で生ずる問題を予測しようとした研究。
設計レビュー指摘密度が低いと下流の手戻り率が高いと言うことが言えそう。他に、上流のメトリクスとして、要件レビュー指摘密度、要件実現率、要件の複雑度、設計仕様実現率、設計の複雑度を調べてみたが、有為な相関は得られなかった。
現存する上流のメトリクスから下流の振舞いを推定するには、メトリクスの安定度を良くしないと難しい。
