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レビューオリエンテーションキットを用いた、育成によるレビュー文化の形成

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

執筆者：
中谷一樹（ＴＩＳ）、小田部健（小野測器）、添田建太郎（ソニー）、西村英俊（インテック）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
藤原雅明（東芝ソリューション）、永田敦（ソニー）

アドバイザ：
森崎修司（静岡大学）
HDR法：仮説駆動型レビュー手法の提案－HDR法の実践による生産性と品質の同時向上－

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：
上田裕之（ＤＴＳ）、中谷一樹（ＴＩＳ）、高橋功（ソーバル）、高橋実雄（サンモアテック）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）藤原雅明（東芝ソリューション）

アドバイザ：
森崎修司（静岡大学）
重大欠陥を効率よく検出するレビュー手法の提案と有効性の実験報告－「レビューの繰り返し」と「振り返り」が生み出す品質効果－

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：
佐々木明（インテック）、吉田憲人（インテック）、外山泰久（リンクレア）、山口友紀（MHIエアロスペースシステムズ）、木村敏康（日立製作所）、豊泉大介（ベックマンコールター）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）藤原雅明（東芝ソリューション）

アドバイザ：
森崎修司（静岡大学）
ソフトウェア品質不安に対する心理的側面に着目した、レビュー計画作成技法の提案

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

執筆者：
奥山剛（山武）、小原美帆（TIS）、小田部健（小野測器）、山本浩之（システムフロンティア）、牧野将治（日本電子）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）

アドバイザ：
森崎修司（奈良先端科学技術大学院大学）
検出難易度の高い欠陥を検出するレビュー方法の提案

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

執筆者：
上野直樹（三菱電機コントロールソフトウェア）、奥山剛（山武）、川合大之（日立ソリューションズ）、會見知史（インテック）、菅野良太（リンクレア）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
藤原雅明（東芝ソリューション）、永田敦（ソニー）

アドバイザ：
森崎修司（静岡大学）
間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法の提案―欠陥の位置と種類の特定によりレビューの効率と効果を向上―

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

執筆者：
中谷一樹（ＴＩＳ）、末次努（アルパイン）、森崎一邦（東芝電波システムエンジニアリング）、田邊哉好（日立製作所）、諏訪博紀（三菱ＵＦＪトラストシステム）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）

アドバイザ：
森崎修司（奈良先端科学技術大学院大学）
ビジネスリスクに直結するレビューポイント導出方法の提案

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：
小田切勇人（日本プロセス）、藤崎祐美子（東洋ビジネスエンジニアリング）、近藤忍（デンソー）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）藤原雅明（東芝ソリューション）

アドバイザ：
森崎修司（静岡大学）

レビューオリエンテーションキットを用いた、育成によるレビュー文化の形成

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

HDR法：仮説駆動型レビュー手法の提案－HDR法の実践による生産性と品質の同時向上－

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

重大欠陥を効率よく検出するレビュー手法の提案と有効性の実験報告－「レビューの繰り返し」と「振り返り」が生み出す品質効果－

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

ソフトウェア品質不安に対する心理的側面に着目した、レビュー計画作成技法の提案

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

検出難易度の高い欠陥を検出するレビュー方法の提案

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法の提案―欠陥の位置と種類の特定によりレビューの効率と効果を向上―

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

ビジネスリスクに直結するレビューポイント導出方法の提案

ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

執筆者：

主査：

副主査：

アドバイザ：

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2012年）