間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法の提案―欠陥の位置と種類の特定によりレビューの効率と効果を向上―

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SQuBOK分類 :
2.17 レビューのマネジメント、 3.8.1.2 インスペクション、 3.8.1.3 チームレビュー、 3.8.1 レビュー方法、 3.8 レビューの技法

年度 : 2010年分科会 : 第3分科会「ソフトウェアレビュー」

主査 : 細川　宣啓（日本アイ・ビー・エム）
副主査 : 永田　敦（ソニー）
アドバイザー : 森崎修司（奈良先端科学技術大学院大学）、森崎修司（奈良先端科学技術大学院大学）
執筆者 : 諏訪博紀（三菱ＵＦＪトラストシステム）、中谷一樹（ＴＩＳ）、田邊哉好（日立製作所）、末次努（アルパイン）、森崎一邦（東芝電波システムエンジニアリング）

紹介文 :
レビュー効率と効果向上に関する新技法の提案論文。欠陥検出率の向上と、コスト効果を改善する方法として、メトリクス測定＋仮説立案を利用に言及している。
品質系、特にレビュー技法に対するメトリクス利用の論文は一般に少ないこと、また当該論文にて言及している「間接メトリクス」に関してはプロセスメトリクス・プロダクトメトリクスのいずれでもない新たなメトリクス分野として注目に値する。

概要 :
ソフトウェアの欠陥は仕様の複雑さ・人の行動・開発現場の環境など様々な要因により成果物に混入する。欠陥を上流工程で摘出するにはレビューが有効であるが、欠陥摘出効率の低さや重大な欠陥が残存する問題がある。本研究チームでは、レビュー実施前にどの位置にどのような欠陥が多く存在しているか特定できれば、それらの問題が改善できると考えた。レビュー実施前にプロジェクトおよびその成果物の状態を表す様々なメトリクスを用いて、欠陥の位置と種類を予測する手法について研究を行い、この手法の実現可能性を示唆するに至った。
本論文では、レビューの効率と効果の向上に貢献するであろう「間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法」について提案する。