紹介文 :
派生開発時のテストでは、変更の影響範囲を考慮しテスト観点の抜け漏れを抑えるテスト要求分析が重要です。
本論文ではHAYST法の「ラルフチャート」を派生開発の前後で作成し両者を比較することで「変更の影響範囲を考慮したテスト観点を導出する」というテスト分析手法を研究したものです。

紹介文 :
本論文では，多くのソフトウェア開発現場で作成・運用されている「チェックリ
スト(チェックシート)」の改善を目指した，「Smile - Process for Checklist Design (S-PCD)」法を提案している。
　チェックリストが，チェックを実施する使用者にとっては分かりにくく，チェッ
ク作業の効率が良くないものであることが多い。チェックする目的や内容が曖昧で
あったり，項目数が必要以上に多いためである。こうした原因がチェックリストを
作成する手法と体系化にあると分析し，チェックリストを改善するために，チェッ
クリストの要件定義・設計プロセスをS-PCD法として定義し提案している。
　S-PCD法により、使用者がチェック作業を効率良く行え，ソフトウェア品質向上
に効果があることを実感し，「Smile」を浮かべて作業できるようになり，開発現
場のモチベーションアップに貢献することが期待される。