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要求仕様書におけるテストエンジニアの視点を活かした欠陥検出方法の提案

ソフトウェア品質管理研究会第5分科会「ソフトウェアテスト」（2008年）

執筆者：
上田克則（大和コンピューター）、伊藤慈朗（東芝デジタルメディアエンジニアリング）、天野佑太（日立メディコ）、朝永糸子（東京海上日動システムズ）、森崎一邦（東芝電波システムエンジニアリング）、永田敦（ソニー）、近江久美子（ＴＩＳ）、阿部修久（キヤノンＩＴソリューションズ）

主査：
秋山浩一（富士ゼロックス）

副主査：
奥村有紀子（デバッグ工学研究所）
間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法の提案―欠陥の位置と種類の特定によりレビューの効率と効果を向上―

ソフトウェア品質管理研究会第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）

執筆者：
中谷一樹（ＴＩＳ）、末次努（アルパイン）、森崎一邦（東芝電波システムエンジニアリング）、田邊哉好（日立製作所）、諏訪博紀（三菱ＵＦＪトラストシステム）

主査：
細川宣啓（日本アイ・ビー・エム）

副主査：
永田敦（ソニー）

アドバイザ：
森崎修司（奈良先端科学技術大学院大学）

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