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得られた成果を
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2件の資料が見つかりました。
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開発現場にうれしさのわかるメトリクス有効活用の提案、事例研究と実践
ソフトウェア品質管理研究会 第1分科会「ソフトウェアプロセス評価・改善」(2007年)
執筆者:
中村 光治(オリンパス)
、
天野 佑太(日立メディコ)
、
山下 憲男(NTT データ三洋システム)
、
山内 一資(デンソー)
、
鈴木 武志(日本電気通信システム)
、
関川 信吉(アルゴ21)
、
髙津 修一(山武)
主査:
三浦 邦彦(矢崎総業)
副主査:
藤巻 昇(東芝)
要求仕様書におけるテストエンジニアの視点を活かした欠陥検出方法の提案
ソフトウェア品質管理研究会 第5分科会「ソフトウェアテスト」(2008年)
執筆者:
上田 克則(大和コンピューター)
、
伊藤 慈朗(東芝デジタルメディアエンジニアリング)
、
天野 佑太(日立メディコ)
、
朝永 糸子(東京海上日動システムズ)
、
森崎 一邦(東芝電波システムエンジニアリング)
、
永田 敦(ソニー)
、
近江 久美子(TIS)
、
阿部 修久(キヤノンITソリューションズ)
主査:
秋山 浩一(富士ゼロックス)
副主査:
奥村 有紀子(デバッグ工学研究所)
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