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間接的メトリクスを用いて欠陥予測を行うレビュー方法の提案―欠陥の位置と種類の特定によりレビューの効率と効果を向上―
ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」(2010年)
執筆者:
中谷 一樹(TIS)
、
末次 努(アルパイン)
、
森崎 一邦(東芝電波システムエンジニアリング)
、
田邊 哉好(日立製作所)
、
諏訪 博紀(三菱UFJトラストシステム)
主査:
細川 宣啓(日本アイ・ビー・エム)
副主査:
永田 敦(ソニー)
アドバイザ:
森崎 修司(奈良先端科学技術大学院大学)
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