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執筆者 :
鷲﨑 弘宜(早稲田大学)
、森田 翔(早稲田大学)
、長井 恭兵(早稲田大学)
、布谷 貞夫(小松製作所)
、佐藤 雅宏(小松製作所)
、杉村 俊輔(小松製作所)
、関 洋平(小松製作所)
紹介文 :
修正なしのブラックボックス的な再利用の可能性を予測する枠組みを提案する論文です。再利用性を測定するために有効なソースコードメトリクスを抽出しただけでなく、さらにそれらのメトリクスが再利用性に与える影響の度合いまで明らかにしています。再利用される予定がないソフトウェア開発でも参考になります。
修正なしのブラックボックス的な再利用の可能性を予測する枠組みを提案する論文です。再利用性を測定するために有効なソースコードメトリクスを抽出しただけでなく、さらにそれらのメトリクスが再利用性に与える影響の度合いまで明らかにしています。再利用される予定がないソフトウェア開発でも参考になります。