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派生開発におけるモレ・ムダのないテスト設計
ソフトウェア品質管理研究会 第6分科会「派生開発」（2009年）
執筆者：
中森 博晃（パナソニック） 、丸山 久（クレスコ） 、吉本 吾朗（三菱UFJトラストシステム） 、奥山 剛（山武） 、奥田 享一郎（TIS） 、村上 聡（日本信号） 、柳内 政宏（アルパイン） 、永田 敦（ソニー）主査：
足立 久美（デンソー）副主査：
奈良 隆正（NARAコンサルティング）アドバイザ：
清水 吉男（システムクリエイツ） -
ソフトウェア品質不安に対する心理的側面に着目した、レビュー計画作成技法の提案
ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2010年）
副主査：
永田 敦（ソニー）アドバイザ：
森崎 修司（奈良先端科学技術大学院大学） -
検出難易度の高い欠陥を検出するレビュー方法の提案
ソフトウェア品質管理研究会 第3分科会「ソフトウェアレビュー」（2011年）
アドバイザ：
森崎 修司（静岡大学）