執筆者：

尾崎 直弘（富士通九州ネットワークテクノロジーズ） 、松尾 修（インテック）

主査：

奥村 有紀子（デバッグ工学研究所）

副主査：

秋山 浩一（富士ゼロックス）堀田 文明（デバッグ工学研究所）

テスト観点の洗い出しにNGT(Notation for Generic Testing)を活用している。作成されたテスト観点テンプレートはドメインに依らず汎用性があるので、どのような組織にも参考になります。

概要：

研究員が所属する品質保証グループによる品質見極めテストで摘出されたバグの原因を分析すると，開発グループのテストケースを設計する観点の漏れに行き着くことが度々ある．本研究では，テストケースを設計するために必要な観点を記載したテスト観点テンプレートを作成し，テストケースの設計時やレビュー時に適用することで，テスト観点の漏れを防止し，テストケースの充実を図った．また，具体的な適用事例を通してその効果と今後の課題を考察した．