バグの流出防止を考える　―どんなテストをすればバグを見つけられたのか？―

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SQuBOK分類 :
3.9.2 仕様に基づいた技法、 3.9.3 コードに基づいた技法、 3.9.5 利用に基づいた技法、 3.9.9 テスト技法の選択と組み合わせ、 3.10.3 障害分析に関する技法

年度 : 2011年分科会 : 第5分科会「ソフトウェアテスト」

主査 : 奥村　有紀子（デバッグ工学研究所）
副主査 : 秋山　浩一（富士ゼロックス）、堀田　文明（デバッグ工学研究所）
執筆者 : 清水　剛史（ユニケソフトウェアリサーチ）、堀川　彬夫（富士フイルム）、鈴木　義昭（伊藤忠テクノソリューションズ）、山本　愛美（キヤノンソフトウェア）、光田　貴志（オムロン）

紹介文 :
フィールドで嫡出されたバグを分析して、嫡出漏れを防止するテストを特定する。また、そのテストケースを生成するテストケース設計技法を採用しているかを分析して、その組織に採用が必要なテスト技法を抽出する。
また、分析途中には、どの段階（テストレベル）でどのようなテスト技法を使えばどのようなバグを嫡出できるかという知識が必要になる。そのため、①テスト観点を仕様ベース、構造ベースで分類した表の作成、②テストレベルとテスト技法の関係、③その技法で嫡出可能なバグ例が報告されている。

概要 :
昨今のソフトウェアの開発において、納期やコストに対する市場要求が高まっている。一方で、信頼性や安全性の確保が不可欠となっている。しかし、ソフトウェアにバグが混入され、市場へバグを流出してしまうケースが後を絶たない。過去の失敗を教訓とし、バグの再発防止を図ることが重要である。
本論文では、バグ流出に焦点を当て、流出原因分析と再発防止に有効なテスト技法選定を実施するためのテスト観点－テスト技法対応表を作成した。この表では、多種多様であるテスト技法をバグ原因別に整理し、テスト技法の解説を適用ケースとともに参照できる形式となっている。バグ発見時にテスト観点－テスト技法対応表を利用し、適切なテスト技法を取り入れることで、テストプロセスを強化できる。