メンテナンスフェーズにおける欠陥周期性分析手法の提案
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SQuBOK分類 :
発表場所 : ソフトウェア品質シンポジウム2018
主査 : 細川 宣啓(日本アイ・ビー・エム(株))
副主査 : 永田 敦(㈱日新システムズ)
執筆者 : 澁谷 将行(㈱トーセーシステムズ) 、安樂啓之(インフォテック㈱) 、福田秀樹(TIS㈱) 、細川宣啓(日本アイ・ビー・エム㈱) 、永田敦(㈱日新システムズ)
副主査 : 永田 敦(㈱日新システムズ)
執筆者 : 澁谷 将行(㈱トーセーシステムズ) 、安樂啓之(インフォテック㈱) 、福田秀樹(TIS㈱) 、細川宣啓(日本アイ・ビー・エム㈱) 、永田敦(㈱日新システムズ)
紹介文 :
ソフトウェアのメンテナンスフェーズを対象とした欠陥の分析や予測は、新規開発と並んで重要である。また、現状のメンテナンスフェーズにおける品質関連の研究の多くは、残存欠陥の「数」に着目したものである。
我々は、残存欠陥の検知数には何らかの周期的な変動があり、その変動要因を知ることができればソフトウェア欠陥の発生傾向の分析や予測につなげることが出来るのではないかと考えた。しかし、それを裏付けるような研究は行われていなかった。
そこで我々は、実際のプロジェクトにおける欠陥検知数の特徴的な変動から周期を検出し、それに基づく要因分析を行うことによって、ソフトウェア欠陥の発生傾向の分析や予測を可能にする手法である「CDAM(Cyclic Defect Analysis Method)」を考えた。
本発表では、CDAMの詳細について実例を交えながら報告する。その上で、欠陥検知の周期性と変動要因を認知することで可能になる、ソフトウェアの品質向上のためのアプローチを提案する。
ソフトウェアのメンテナンスフェーズを対象とした欠陥の分析や予測は、新規開発と並んで重要である。また、現状のメンテナンスフェーズにおける品質関連の研究の多くは、残存欠陥の「数」に着目したものである。
我々は、残存欠陥の検知数には何らかの周期的な変動があり、その変動要因を知ることができればソフトウェア欠陥の発生傾向の分析や予測につなげることが出来るのではないかと考えた。しかし、それを裏付けるような研究は行われていなかった。
そこで我々は、実際のプロジェクトにおける欠陥検知数の特徴的な変動から周期を検出し、それに基づく要因分析を行うことによって、ソフトウェア欠陥の発生傾向の分析や予測を可能にする手法である「CDAM(Cyclic Defect Analysis Method)」を考えた。
本発表では、CDAMの詳細について実例を交えながら報告する。その上で、欠陥検知の周期性と変動要因を認知することで可能になる、ソフトウェアの品質向上のためのアプローチを提案する。