執筆者：

小嶋 秀和 、村上 雅哉 、柏原 一雄（㈱デンソークリエイト） 、都築 功（㈱デンソークリエイト）

　派生開発では、変更の影響箇所に潜在する欠陥を、回帰テストで見逃さず検出することが必要である。限られた時間で、影響範囲に対するテスト漏れを防止するためには「確実な影響範囲の特定」に加えて「テストの網羅性の確認」と「影響範囲を小さくする設計」が重要である。本発表では「制御の流れとデータ更新・参照の流れから影響箇所を特定可能」という考えから、影響波及パスという概念を定義し、それを利用した手法「影響波及パス分析法」を提案する。本手法を実開発に適用した結果、影響範囲に対するテスト漏れによる欠陥流出の防止に繋がる効果が確認できた。