紹介文 :
ソフトウェアの欠陥が市場で顕在化した場合、その欠陥の修正にかかる費用やＣＳ低下のリスクが大きい。このリスクを低減するために、開発中にできる限り欠陥を取り除いておく必要がある。
本論文は、出荷後の欠陥摘出の有無とプロダクトメトリクスとの関係に着目し、開発中の欠陥を取り除くプロセスとしてこれらの関係が活用できるか、日本電気株式会社と共同で実製品のデータを用いて分析を行った。
具体的には、ソースコードの有効行数と最大ネスティング数にしきい値を設定することで、しきい値以下としきい値を超えるグループで層別を行い、出荷後の欠陥摘出率に差異があるかの確認を行った。結果は、しきい値以下のグループよりもしきい値を超えるグループの出荷後の欠陥摘出率が高くなる傾向にあることが確認でき、プロダクトメトリクスがしきい値を超えるソースコードについては、開発プロセスにおいてより注意を払う必要があることを確認した。
上記を踏まえ、開発プロセスへの具体的な適用施策として、有効行数のしきい値を150行、最大ネスティング数のしきい値を4に設定すること、しきい値を超えるソースコードに対しては、しきい値以下のソースコードよりも注意深くレビューする、あるいはリファクタリング等を行うことを結論付けた。
本論文は、上記結論への導出過程を紹介する。