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SQuBOK分類 :
執筆者 :
福田 伊津子(㈱ 東芝)
紹介文 :
受託開発では、上流設計の遅れから試験期間が圧迫されることが多い。特に開発期間が1年を超える新規開発においては、システム設計、基本設計に時間をかけることで実装計画がずれ、残された期間で試験を実施しなければならない。試験工程ではシステム試験の期間を確保するため、ソフトウェア間の結合試験が十分実施されずにシステム試験に進む場合があり、現地動作確認前に不具合が潰し切れない可能性がある。
そこで、試験期間の圧迫が品質に影響していると捉え、部門のデータを分析、試験期間が不具合の発生状況に影響しているという結果が得られた。この結果を元に、品質向上に繋がる適正な試験期間の指標を設定できた。
本発表では、試験期間及び不具合に関するメトリクスの分析結果と品質向上に向けた取組みについて紹介する。
受託開発では、上流設計の遅れから試験期間が圧迫されることが多い。特に開発期間が1年を超える新規開発においては、システム設計、基本設計に時間をかけることで実装計画がずれ、残された期間で試験を実施しなければならない。試験工程ではシステム試験の期間を確保するため、ソフトウェア間の結合試験が十分実施されずにシステム試験に進む場合があり、現地動作確認前に不具合が潰し切れない可能性がある。
そこで、試験期間の圧迫が品質に影響していると捉え、部門のデータを分析、試験期間が不具合の発生状況に影響しているという結果が得られた。この結果を元に、品質向上に繋がる適正な試験期間の指標を設定できた。
本発表では、試験期間及び不具合に関するメトリクスの分析結果と品質向上に向けた取組みについて紹介する。