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SQuBOK分類 :
執筆者 :
小島 義也(エプソンアヴァシス㈱)
紹介文 :
ソフトウェア開発において、欠陥分析作業は必須のプロセスである。
この作業により、製品の品質もさることながら、プロセスの品質を推し測ることができる。
そのため、自社開発プロジェクトで欠陥分析作業は実施されているものの、その実、作業内容自体には標準というものがない。
分析作業を実施しなければならないことは開発プロセスに組み込まれているが、具体的な作業手順やその内容は標準化されていないのが現実である。
それらは、派生開発で継続的に受け継がれた内容であったり、報告者の独善的な内容であったり、レベルがまちまちな玉石混交な成果である。
上記の課題を解決するために、ODC属性(Orthogonal Defect Classification、直交欠陥分類)を軸とした欠陥分析パターンを案出、さらに欠陥分析作業を標準化することにより、分析レベルの一定化や作業の効率化を図ることを目的とした改善作業について報告する。
ソフトウェア開発において、欠陥分析作業は必須のプロセスである。
この作業により、製品の品質もさることながら、プロセスの品質を推し測ることができる。
そのため、自社開発プロジェクトで欠陥分析作業は実施されているものの、その実、作業内容自体には標準というものがない。
分析作業を実施しなければならないことは開発プロセスに組み込まれているが、具体的な作業手順やその内容は標準化されていないのが現実である。
それらは、派生開発で継続的に受け継がれた内容であったり、報告者の独善的な内容であったり、レベルがまちまちな玉石混交な成果である。
上記の課題を解決するために、ODC属性(Orthogonal Defect Classification、直交欠陥分類)を軸とした欠陥分析パターンを案出、さらに欠陥分析作業を標準化することにより、分析レベルの一定化や作業の効率化を図ることを目的とした改善作業について報告する。